Учебная стенд для исследования биполярных структур , модель ЭЛБ-150.008.01





























    
    
    

    
    
    
    
        
    
  
  
		
			
		
			
		





Учебная стенд для исследования биполярных структур

Артикул: ЭЛБ-150.008.01

1 239 797

Доступно для предзаказа

  1. Измерение ВАХ p–n-перехода и сравнение её с идеальной характеристикой.
  2. Исследование прямой ветви ВАХ различных схем диодного включения транзистора при различных температурах.
  3. Измерение обратной ветви ВАХ электронно-дырочного перехода при различных температурах. Исследование явления пробоя.
  4. Измерение входных характеристик транзистора при различных напряжениях на коллекторе и различных температурах.
  5. Исследование семейства выходных характеристик транзистора при различных температурах.
  6. Передаточные характеристики и характеристики обратной связи биполярного транзистора в схеме с общим эмиттером.
Учебная стенд для исследования биполярных структурУчебная стенд для исследования биполярных структур
1 239 797

Доступно для предзаказа

Прокрутить вверх